簡(jiǎn)單介紹冷鏡露點(diǎn)儀的阻容法
冷鏡露點(diǎn)儀的阻容法是一種不斷完善的濕度測(cè)量方法。利用一個(gè)高純鋁棒最為突出，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜落實落細，其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜，金膜與鋁棒之間形成電容高效化，由于氧化鋁薄膜的吸水特性製高點項目，導(dǎo)致電容值隨樣氣水分的多少而改變，測(cè)量該電容值即可得到樣氣的濕度範圍和領域。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量量程可更低有所增加，甚至達(dá)-100℃，另一突出優(yōu)點(diǎn)是響應(yīng)速度非掣咭?？煸絹碓街匾奈恢?，從干到濕響應(yīng)一分鐘可達(dá)90%，
冷鏡露點(diǎn)儀因而多用于現(xiàn)場(chǎng)和快速測(cè)量場(chǎng)合的可能性；缺點(diǎn)是精度較差不要畏懼，不確定度多為±2～3℃。老化和漂移嚴(yán)重措施，使用3~6個(gè)月必須校準(zhǔn)大大縮短。但隨著各廠家的不斷努力，該方法正在逐漸得到完善緊密相關，例如更默契了，通過(guò)改變材料和提高工藝使得傳感器穩(wěn)定度大大提高，通過(guò)對(duì)傳感器響應(yīng)曲線的補(bǔ)償作到了飽和線性，解決了自動(dòng)校準(zhǔn)問(wèn)題不合理波動。
任何光學(xué)系統(tǒng)均會(huì)受到染影響宣講手段，冷鏡露點(diǎn)儀也不例外。特別是清潔鏡面后會(huì)減少光反射積極拓展新的領域，雖然對(duì)儀表性能影響微乎其微配套設備，但是日益積累超過(guò)一定程度，系統(tǒng)將無(wú)法準(zhǔn)確地運(yùn)作相對開放。因此推進高水平，冷鏡露點(diǎn)儀均植入了一個(gè)自動(dòng)補(bǔ)償系統(tǒng)自動(dòng)平衡補(bǔ)償（ABC）定期地重新平衡傳感光學(xué)元件，補(bǔ)償任何由于污染而引起的光強(qiáng)度地減少拓展應用。擁有各種周期和持續(xù)時(shí)間的ABC系統(tǒng)生產創效，能根據(jù)特定工業(yè)過(guò)程情況選擇合適的時(shí)間。在ABC階段中保持顯示和輸出數(shù)據(jù)管理，允許*的連續(xù)的工業(yè)過(guò)程控制優化上下。Optidew具有動(dòng)態(tài)污染糾正（即DCC）。DCC是智能化的微處理器控制的系統(tǒng)模樣，工作原理與ABC相同生產體系，但是檢測(cè)和補(bǔ)償污染更為先進(jìn)，并能自動(dòng)地糾正飽和條件很重要，如當(dāng)傳感器處于氣體凝露的情況下能力和水平。
