簡單介紹冷鏡露點儀的阻容法
冷鏡露點儀的阻容法是一種不斷完善的濕度測量方法等地。利用一個高純鋁棒要素配置改革，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜高端化，其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜自主研發，金膜與鋁棒之間形成電容有所增加，由于氧化鋁薄膜的吸水特性完善好，導(dǎo)致電容值隨樣氣水分的多少而改變，測量該電容值即可得到樣氣的濕度供給。該方法的主要優(yōu)點是測量量程可更低全過程，甚至達-100℃，另一突出優(yōu)點是響應(yīng)速度非撤e極參與？靸瀯蓊I先，從干到濕響應(yīng)一分鐘可達90%，
冷鏡露點儀因而多用于現(xiàn)場和快速測量場合探討；缺點是精度較差新技術，不確定度多為±2～3℃。老化和漂移嚴重共創美好，使用3~6個月必須校準(zhǔn)趨勢。但隨著各廠家的不斷努力，該方法正在逐漸得到完善行業分類，例如預下達，通過改變材料和提高工藝使得傳感器穩(wěn)定度大大提高，通過對傳感器響應(yīng)曲線的補償作到了飽和線性，解決了自動校準(zhǔn)問題技術創新。
任何光學(xué)系統(tǒng)均會受到染影響醒悟，冷鏡露點儀也不例外。特別是清潔鏡面后會減少光反射生產體系，雖然對儀表性能影響微乎其微新模式，但是日益積累超過一定程度，系統(tǒng)將無法準(zhǔn)確地運作高質量。因此應用情況，冷鏡露點儀均植入了一個自動補償系統(tǒng)自動平衡補償（ABC）定期地重新平衡傳感光學(xué)元件，補償任何由于污染而引起的光強度地減少。擁有各種周期和持續(xù)時間的ABC系統(tǒng)也逐步提升，能根據(jù)特定工業(yè)過程情況選擇合適的時間。在ABC階段中保持顯示和輸出數(shù)據(jù)能力和水平，允許*的連續(xù)的工業(yè)過程控制組織了。Optidew具有動態(tài)污染糾正（即DCC）。DCC是智能化的微處理器控制的系統(tǒng)註入了新的力量，工作原理與ABC相同表現，但是檢測和補償污染更為先進，并能自動地糾正飽和條件說服力，如當(dāng)傳感器處于氣體凝露的情況下的積極性。
