簡單介紹冷鏡露點(diǎn)儀的阻容法
冷鏡露點(diǎn)儀的阻容法是一種不斷完善的濕度測量方法。利用一個高純鋁棒，表面氧化成一層超薄的氧化鋁薄膜良好，其外鍍一層多空的網(wǎng)狀金膜顯示，金膜與鋁棒之間形成電容，由于氧化鋁薄膜的吸水特性過程中，導(dǎo)致電容值隨樣氣水分的多少而改變振奮起來，測量該電容值即可得到樣氣的濕度建立和完善。該方法的主要優(yōu)點(diǎn)是測量量程可更低，甚至達(dá)-100℃增多，另一突出優(yōu)點(diǎn)是響應(yīng)速度非硢⒂?？欤瑥母傻綕耥憫?yīng)一分鐘可達(dá)90%估算，
冷鏡露點(diǎn)儀因而多用于現(xiàn)場和快速測量場合活動上；缺點(diǎn)是精度較差，不確定度多為±2～3℃深入各系統。老化和漂移嚴(yán)重大型，使用3~6個月必須校準(zhǔn)。但隨著各廠家的不斷努力建設項目，該方法正在逐漸得到完善動手能力，例如，通過改變材料和提高工藝使得傳感器穩(wěn)定度大大提高傳遞，通過對傳感器響應(yīng)曲線的補(bǔ)償作到了飽和線性充分，解決了自動校準(zhǔn)問題。
任何光學(xué)系統(tǒng)均會受到染影響的發生，冷鏡露點(diǎn)儀也不例外融合。特別是清潔鏡面后會減少光反射，雖然對儀表性能影響微乎其微相結合，但是日益積累超過一定程度提升，系統(tǒng)將無法準(zhǔn)確地運(yùn)作。因此相關性，冷鏡露點(diǎn)儀均植入了一個自動補(bǔ)償系統(tǒng)自動平衡補(bǔ)償（ABC）定期地重新平衡傳感光學(xué)元件競爭力，補(bǔ)償任何由于污染而引起的光強(qiáng)度地減少。擁有各種周期和持續(xù)時間的ABC系統(tǒng)的必然要求，能根據(jù)特定工業(yè)過程情況選擇合適的時間技術節能。在ABC階段中保持顯示和輸出數(shù)據(jù)，允許*的連續(xù)的工業(yè)過程控制發展基礎。Optidew具有動態(tài)污染糾正（即DCC）延伸。DCC是智能化的微處理器控制的系統(tǒng)，工作原理與ABC相同要求，但是檢測和補(bǔ)償污染更為先進(jìn)，并能自動地糾正飽和條件，如當(dāng)傳感器處于氣體凝露的情況下運行好。
